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유해물질 시험분석방법 국제표준으로 확정납, 수은, 카드뮴 등 6대 유해물질 대상 전민선 |
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전기전자제품 내의 유해물질 시험분석방법이 국제표준으로 제정된다. 그간 시험기관마다 분석방법이 상이하여 논란과 혼란이 거듭되던 납, 수은, 카드뮴 등 6대 환경유해물질의 시험분석방법에 대한 혼선이 해결될 전망이다.
지식경제부 기술표준원(원장 남인석)은 전기전자제품의 환경 분야 국제표준 최종 확정을 위하여 국제전기기술위원회(IEC)의 '전기전자제품 및 시스템 환경표준화 기술위원회(IEC TC 111)' 회의를 12일부터 17일까지 제주도에서 개최한다고 밝혔다.
기술표준원은 유럽에서 전기전자제품의 유해물질 사용제한지침(RoHS)이 2006년 7월부터 시행되는 등 전 세계적으로 전기전자제품에 대한 환경규제가 확산되고 있는 추세이며 동 규제가 새로운 무역장벽 으로 나타나고 있는 실정이라고 하며, 우리나라의 주력 수출품목인 전기전자제품의 대외 이미지 제고와 환경규제의 능동적 대응을 통한 전기전자산업의 국제경쟁력 향상을 위하여 이번에 국내에서 국제회의를 개최한다고 했다.
이번 회의는 우리나라를 비롯한 주요 전기전자제품 제조국인 미국, 독일, 일본 등 19개국 100여명의 국제표준 전문가들이 참여하여 전기전자제품에 사용되는 납, 수은, 카드뮴 등 6대 유해물질의 시험분석방법에 대한 국제표준을 최종 확정하고, 유해물질에 대한 제조자의 물질선언, 유해물질 샘플 추출법 및 전기전자제품의 친환경설계에 대한 국제표준화 문제를 집중적으로 논의하게 된다.
우리나라는 우리 산업계의 입장을 최대한 반영하여 6대 유해물질 시험분석방법 표준화 외에도 새롭게 이슈화 되고 있는 전기전자제품 내의 '할로겐물질(F, Cl 등) 시험분석방법'에 대한 새로운 국제표준도 제안할 예정이다.
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